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ATX210覆层测厚仪

ATX210覆层测厚仪

ATX210覆层测厚仪概述
      ATX210覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量;既可用于实验室,也可用于工程现场;广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业必备的仪器。
       
       ATX210
覆层测厚仪符合以下标准:
  •  GB/T4956-1985 磁性方法
  •  GB/T4957-1985 涡流方法
  •  JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
  • JG889-95 《磁阻法测厚仪》
  • JJG818-93 《电涡流式测厚仪》 

ATX210覆层测厚仪

ATX210覆层测厚仪功能特点
  • 采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等),非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
  • 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  •  具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 设有五个统计量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
  • 具有存贮功能:可存贮100 个测量值
  • 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
  • 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;并可用直方图对一批测量值进行分析
  • 具有电源欠压指示功能
  • 操作过程有蜂鸣声提示
  • 具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
  • 设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
ATX210覆层测厚仪技术参数
  • 测头类型:F | N
  • 测量原理:磁感应 | 电涡流
  • 测量范围:0-1500um | 0-1500um 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力:0.1um
  • 探头连接方式:一体化
  • 示值误差:F | N
            1.  一点校准(um):±[2%H+1]
            2.  两点校准(um):±[(1%~3%)H+1]
            3.  一点校准(um):±[2%H+1.5]
            4.  两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
  • 测量条件:F | N
           1.  最小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9
           2.  基体最小面积的直径(mm):ф7
           3.  最小临界厚度(mm):0.5
           4.  最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
           5.  基体最小面积的直径(mm):ф5
           6.  最小临界厚度(mm):0.3

  • 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
  • 统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 上下限设置:有
  • 存储能力:100个测量值
  • 关机方式:手动和自动
  • 电       源:二节AAA型(7号)1.5V电池
  • 外形尺寸:110×50×23mm
  • 重       量:100g 
ATX210覆层测厚仪基本配置
  • ATX210覆层测厚仪主机
  • 铁基体和铝基体
  • 标准片一套|五片
  • 二节AA型(5号)1.5V电池  
  • 使用说明书 
ATX210覆层测厚仪可选附件
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