时代TIME2601覆层测厚仪
文章来源:时代光南 发表时间:2021.03.10 浏览人数:人
时代TIME2601覆层测厚仪功能特点:
主机、打印机、F头或N头、标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)、铁基体或铝基体、充电器
时代TIME2601覆层测厚仪可选附件:
探头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)、通信线缆、通信软件
产品概述:
时代TIME2601覆层测厚仪是一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。本仪器符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
产品用途:
本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
时代TIME2601覆层测厚仪技术参数:
注:H——标称值
测头选用参考表:
- 采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
- 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02);
- 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
- 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
- 设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测量次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
主机、打印机、F头或N头、标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)、铁基体或铝基体、充电器
时代TIME2601覆层测厚仪可选附件:
探头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)、通信线缆、通信软件
产品概述:
时代TIME2601覆层测厚仪是一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。本仪器符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
产品用途:
本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
时代TIME2601覆层测厚仪技术参数:
测头型号 | F400 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | CN02 | |||
工作原理 | 磁 感 应 | 涡 流 | |||||||
测量范围(mm) | 0~400 | 0~1250 | 0~1250 | 0~10000 | 0~1250(铜上镀铬0~40) | 10~200 | |||
低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | |||
示值 | 一点校准(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | |||
误差 | 二点校准(mm) | ±((1~3)%H+0.7) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+10) | ±[(1~3)%H+1.5] | |||
测 试 条 件 |
最小曲率半径(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 仅为平直 | |
最小面积的直径(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | |||
基体临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 无限制 |
注:H——标称值
测头选用参考表:
覆盖层 基体 |
有机材料等非磁性覆盖层(如漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等) | 非磁性的有色金属的覆层 (如铬、锌、铝、铜、锡、银等) |
|||
覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | ||
如铁、钢等磁性金属 | 被测面积的直径大于30mm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm |
F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm |
F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm |
F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm |
被测面积的直径小于30mm | F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm |
F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm |
|
如铜、黄铜、铝、锌、锡等有色金属 | 被测面积的直径大于5mm | N1型测头0-1250μm | N1型测头只能测铜上镀铬0-40μm | ||
塑料、印刷线路板等非金属基体 | 被测面积的直径小于7mm | - | - | CN02型测头10-200μm (主要用途测铜箔厚度) |